- 試料評価 -

粉末X線回折装置 (リガク UltimaⅣ 高速検出器付)

試料にX線を照射しその回折現象を観測します。回折パターンを解析することにより、結晶構造や格子定数といった物性の起源を理解する上で大変重要な情報を得ることができます。

単結晶試料に連続X線を照射し、その回折現象を観測します。観測される回折像をラウエ斑点といい、これをシミューレーションの結果と比較することで、単結晶の軸を決定します。これは2007年に導入されたイメージングプレートによって斑点を読み取る装置です。

実際に撮影された結果とシミュレーション（LauePtから）の比較です。

試料に熱を与え、それに対する反応を観測することによって物質の相転移温度（融点など）を決定することができます。測定温度領域は室温から1500℃までです。試料を育成する際にこの温度は重要な役割を果たします。